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介電常數(shù)測(cè)試儀廠(chǎng)家是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷(xiāo)售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。測(cè)試時(shí)，當(dāng)材料的損耗較大時(shí)，介質(zhì)損耗值會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。）但又無(wú)法得到升級(jí)完善，產(chǎn)品沒(méi)有新增的功能。因此請(qǐng)廣大用戶(hù)注意識(shí)別。

介電常數(shù)測(cè)試裝置是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷(xiāo)售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。在介質(zhì)損耗測(cè)試時(shí)，當(dāng)材料的損耗較大時(shí)，介質(zhì)損耗值會(huì)出現(xiàn)錯(cuò)誤。）但又無(wú)法得到升級(jí)完善，產(chǎn)品沒(méi)有新增的功能。因此請(qǐng)廣大用戶(hù)注意識(shí)別。

介電常數(shù)測(cè)定儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷(xiāo)售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現(xiàn)，一些沒(méi)有研發(fā)能力的不良公司，盜版了我公司早期產(chǎn)品的軟件，仿制我公司的產(chǎn)品進(jìn)行銷(xiāo)售，給不了解情況的客戶(hù)將帶來(lái)?yè)p失。

型介電常數(shù)測(cè)量?jī)x是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷(xiāo)售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現(xiàn)，一些沒(méi)有研發(fā)能力的不良公司，盜版了我公司早期產(chǎn)品的軟件，仿制我公司的產(chǎn)品進(jìn)行銷(xiāo)售，給不了解情況的客戶(hù)將帶來(lái)?yè)p失。

介電常數(shù)試驗(yàn)裝置是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷(xiāo)售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現(xiàn)，一些沒(méi)有研發(fā)能力的不良公司，盜版了我公司早期產(chǎn)品的軟件，仿制我公司的產(chǎn)品進(jìn)行銷(xiāo)售，給不了解情況的客戶(hù)將帶來(lái)?yè)p失。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前國(guó)內(nèi)Z高的160MHz.LJD-C介電常數(shù)測(cè)試儀采用了多項(xiàng)先進(jìn)技術(shù)：$n雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。$n雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。$n雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

介電常數(shù)及介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀是我公司*研制生產(chǎn)的產(chǎn)品，自該產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)銷(xiāo)售后，我公司工程師就一直持續(xù)不斷對(duì)產(chǎn)品改進(jìn)升級(jí)；特別是在軟件上不斷地加以完善，改進(jìn)了早期產(chǎn)品存在的不足之處，提高了測(cè)試精度，并增加新的功能。